구조분석장비(TEM&FIB) 활용기술 세미나

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구미전자정보기술원(원장 안병화)은 10일 기술원 진흥관 2층 다목적홀에서 “구조분석장비(TEM&FIB) 활용기술 세미나”를 개최했다.

세미나는 지방과학연구단지육성사업을 통해 구축된 국내 최고 수준의 첨단 R&D장비인 투과전자현미경(TEM)과 집속이온빔-전자현미경(FIB)의 외부분석서비스 개시와 향후 장비운영방안 소개로 진행됐다.

또 성균관대학교 공동기기원과 구미전자정보기술원 경북과학기술진흥센터는 첨단분석장비를 활용한 R&D 역량강화를 목적으로 변화하는 환경에 대응하고자 장비활용 및 기술협력 MOU를 체결했다.

양 기관은 협약을 통해 △분석장비 활용 협의체 운영과 세미나, 학술대회, 월례회 등의 행사 △협력기관의 외부 분석서비스 및 사업 전반 △분석장비 전문인력의 기술지원 및 교육 △중앙정부 및 지방 자치단체에서 주관하는 분석장비 관련사업에 대한 정보제공 및 과제 발굴 지원 등 장비활용 및 기술협력에 관한 사항에 대해 상호 협조하기로 했다.

특히 전문가 초청세미나를 통해 첨단R&D장비를 활용한 최신분석기법과 구축장비의 우수성을 소개하고, 경북과학기술진흥센터의 TEM/FIB 장비실 투어를 진행하여 현장감 있는 세미나가 됐다.

세미나는 첨단 반도체 소자의 TEM분석법, TEM을 활용한 나노물질 분석, 나노물질의 정량적 특성평가를 중점적으로 포스텍 오상호 교수, 삼성전자 김중정 박사, 나노종합기술원 양준모 박사가 설명했다.

안병화 원장은 “첨단분석장비가 구축완료 되어서 지역의 기업체, 대학교, 연구소 등 과학기술기반 역량향상에 크게 기여할 수 있을 것으로 기대된다”며“전문가 초청세미나를 통해 최신분석기법과 우리기술원 구축장비의 우수성을 소개하여, 연구 활동 및 분석 파트너로서의 대외적 신뢰도를 향상시키는 자리가 되었으면 한다.”고 말했다.

자세한 사항은 구미전자정보기술원 경북과학기술진흥센터 홈페이지(www.gbsp.geri.re.kr) 공지사항을 참조하거나 054-479-1806으로 문의하면 된다.